З фізичної точки зору дифракційний аналіз монокристалів та полікристалів є еквівалентним. Проте дифракційний аналіз порошків важко використовувати для дослідження структури речовин із-за проблеми перекривання дифракційних піків, що виникає через одновимірний характер даних та труднощі вимірювання індивідуальних інтенсивностей Бреггівських відбитків. В останні роки проблеми перекривання піків вирішувалися за рахунок застосування автоматичних дифрактометрів та розробки алгоритмів. Наразі для отримання структурної інформації з порошкових даних використовуються два підходи, в обох з яких необхідно визначити параметри елементарної комірки та сингонії кристала. Описано основи методу Рітвельда та його можливості, рекомендовану послідовність уточнення параметрів та методику роботи з програмами FULLPROF та TOPAS. Особлива увага приділена кількісному фазовому аналізу багатофазних сумішей, що важливо для опису та кількісної оцінки як мінералогічних зразків, так і результатів синтезу. Додатковою перевагою методу є можливість уточнення структури кількох кристалічних фаз у гетерогенних зразках. Для опису методу обрано розповсюджені некомерційна та комерційна програми FULLPROF та TOPAS відповідно. Для дослідження за умов змінної температури також пропонується програма RietToTensor.